Описание

Wave-scan II пришёл на смену устаревшему wave-scan DOI. Прибор также превосходно обеспечивает контроль внешнего вида верхнего покрытия - базы и лака. Сканер wave-scan II характеризуется стопроцентной корреляцией с wave-scan DOI и открывает новые возможности для измерения шагрени/волнистости и DOI на поверхностях с сильным блеском.
Малый вес и отличная эргономика wave-scan II делают процесс контроля еще более легким, особенно при использовании на конвейере. Новый дизайн упрощает работу на поверхности со сложной геометрией. Управление и меню стали еще понятнее и удобнее. 
.

• Новая система навигации и управления – колесо, как на компьютерной мыши.
• Объем памяти увеличился до 1500 значений (ранее – 500).
• Новая док-станция хранения прибора, зарядки батареи и передачи информации на PC через интерфейс USB

Wave-scan II удобен для применения и на плоских, и на искривленных поверхностях (с радиусом кривизны 500 мм), снабжен большим дисплеем и USB-портом, встроенной памятью. Шкалы измерения и длина пути сканирования задаются по выбору. Новый дополнительный ИК–светодиод позволяет измерять и анализировать те же самые спектральные структуры (0,1...30 мм) на поверхностях со средним блеском (грунт/праймер). Индекс DOI и степень четкости отражения анализируется с помощью встроенной современной CCD-камеры. Wave-scan II даёт новые возможности специалистам "balck belt" на автомобильных заводах при анализе дефектов или несоответствий финишного покрытия требуемым параметрам. Прибор обеспечивает контроль шагрени в соответствии с внутренними стандартами всех мировых автоконцернов.

Диапазоны волнистости для wave-scan II