Характеристики и описание
- Производитель
- Страна производительЯпония
Описание
Благодаря собственной технологии измерений, запатентованной компанией Nikon, которая основана на методе сканирующей оптической интерферометрии, разрешение по высоте может достигать 1 пикометра (пм). Nikon производит широкий спектр оптических микроскопов, используемых в качестве систем измерения, которые отвечают требованиям, предъявляемым к измерениям в самых разных областях применения.
Основные преимущества интерферометрической микроскопической системы BW-D500 Series/BW-S500 Series
Потрясающие результаты измерений
- Осуществляет измерения сверхгладких поверхностей с разрешением на уровне 0,1 нм, без усреднения и фильтрации.
- Позволяет выполнять измерения с одинаковым разрешением по высоте в различных диапазонах увеличения.
- Позволяет выполнять измерения как гладких, так и шероховатых поверхностей без смены режима измерения или оптических фильтров.
- Регистрирует как полнофокусное изображение, так и изображение высоты поверхности.
Широкий спектр методов наблюдения
Данная система может быть использована в качестве оптического микроскопа. Возможно выполнение наблюдений по методу светлого поля, поляризации, ДИК и флуоресценции.
Профилометр BW-D501 Карбидокремниевая пластина:
Увеличение 10х
Увеличение 50х
Увеличение 100х
Технические характеристики
Модель с высоким разрешением
|
BW-S501 |
BW-S502 |
BW-S503 |
BW-S505 |
BW-S506 |
BW-S507 |
|
|
Оптическая измерительная система |
Вариация фокусировки при интерферометрии в белом свете |
|||||
|
Разрешение по высоте (алгоритм) |
1 пм (0,001 нм) |
|||||
|
Воспроизводимость измерения высоты ступеньки |
σ: 8 нм на ступеньке высотой 8 мкм |
|||||
|
Количество пикселей |
2046 x 2046, 1022 x 1022 (выбирается в ПО) |
|||||
|
Время измерения высоты |
38 сек, 16 сек / скан на глубину 10 мкм |
|||||
|
Диапазон измерения высоты |
< 90 мкм |
< 20 мм |
< 90 мкм |
< 20 мм |
||
|
Размер поля измерения (при использовании 2,5Х) |
< 4448 x 4448 мкм* |
|||||
|
Пьезоэлектрический привод |
Привод, находящийся в объективе |
Привод, находящийся в револьвере объектива |
||||
|
Ось Z |
Ручной |
Электрический |
Ручной |
Электрический |
||
|
Ось XY |
Ручной |
Электрический |
Ручной |
Электрический |
||
|
Программное обеспечение |
Программные модули Bridgelements® |
|||||
Высокоскоростная модель
|
BW-D501 |
BW-D502 |
BW-D503 |
BW-D505 |
BW-D506 |
BW-D507 |
||
|
Оптическая измерительная система |
Вариация фокусировки при интерферометрии в белом свете |
||||||
|
Разрешение по высоте (после компьютерной обработки) |
1 пм (0,001 нм) |
||||||
|
Воспроизводимость измерения высоты ступеньки |
σ: 8 нм на ступеньке высотой 8 мкм |
||||||
|
Количество пикселей |
510x510 |
||||||
|
Время измерения высоты |
4 сек / скан на глубину 10 мкм |
||||||
|
Диапазон измерения высоты |
< 90 мкм |
< 20 мм |
< 90 мкм |
< 20 мм |
|||
|
Размер поля измерения |
< 2015 мкм x 2015 мкм * |
||||||
|
Пьезоэлектрический привод |
Привод, находящийся в объективе |
Привод, находящийся в револьвере объектива |
|||||
|
Ось Z |
Ручной |
Электрический |
Ручной |
Электрический |
|||
|
Ось XY |
Ручной |
Электрический |
Ручной |
Электрический |
|||
|
Программное обеспечение |
Программные модули Bridgelements® |
||||||
Оптический профилометр Nikon BW-D500 Series/BW-S500 Series
Под заказ
Цену уточняйте
Минск ∙
Доставка
Оплата и гарантии